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Electronic Structure and van der Waals Interactions in the Stability and Mobility of Point Defects in Semiconductors

机译:半导体中点缺陷稳定性和迁移率的电子结构和范德华相互作用

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摘要

We study the role of electronic structure (band gaps) and long-range van der Waals interactions on the stability and mobility of point defects in silicon and heavier semiconductors. Density functional theory calculations with hybrid functionals that contain part of Hartree-Fock exchange energy are essential to achieve reasonable description of defect electronic levels, leading to accurate defect formation energies. However, these functionals signicantly overestimate the experimental migration barriers. The inclusion of screened vdW interactions further improves the description of defect formation energies, signicantly changes the barrier geometries, and brings migration barrier heights into close agreement with experimental values. These results suggest that hybrid functionals with vdW interactions can be successfully used for predictions in broad range of materials where the correct description of both the electronic structure and the long-range electron correlation is essential.
机译:我们研究了电子结构(带隙)和远距离范德华相互作用对硅和较重半导体中点缺陷的稳定性和迁移率的作用。包含泛函的包含Hartree-Fock交换能量的一部分的混合泛函的密度泛函理论计算对于实现缺陷电子能级的合理描述,导致精确的缺陷形成能至关重要。但是,这些功能明显高估了实验迁移的障碍。包含筛选的vdW相互作用进一步改善了缺陷形成能的描述,显着改变了势垒的几何形状,并使迁移势垒高度与实验值紧密一致。这些结果表明,具有vdW相互作用的混合功能可以成功地用于各种材料的预测,其中正确描述电子结构和远距离电子相关性至关重要。

著录项

  • 作者

    Gao, W.; Tkatchenko, A.;

  • 作者单位
  • 年度 2013
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类

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